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蒸发遮掩法检测-检测范围

检测项目

薄膜厚度检测:

  • 厚度均匀性:平均厚度偏差≤±0.5nm(参照ISO 21968)
  • 沉积速率:蒸发速率0.1-10nm/s
元素组分分析:
  • 元素偏差值:浓度偏差±0.02wt%(参照ASTM E1251)
  • 杂质含量:氧含量≤0.005wt%、碳含量≤0.01wt%
表面形貌检测:
  • 粗糙度:Ra≤0.2μm(参照ISO 4287)
  • 缺陷密度:孔洞密度<5个/cm²、划痕长度≤10μm
硬度性能测试:
  • 显微硬:维氏硬度HV0.01≥500
  • 纳米压痕:硬度值H≥8GPa、弹性模量E≥150GPa
界面粘结强度:
  • 粘结力:剥离强度≥10N/mm(参照ASTM D903)
  • 结合能:界面能≥50mJ/m²
光学特性评估:
  • 透射率:可见光波段≥90%
  • 反射率:红外波段≥95%
化学稳定性检测:
  • 耐腐蚀性:盐雾试验≥500小时无腐蚀
  • 抗氧化性:高温氧化增重≤0.1mg/cm²/h
电学性能测量:
  • 电阻率:方阻≤5Ω/sq
  • 介电常数:εr≥4.5
热学特性分析:
  • 热膨胀系数:CTE≤5ppm/°C
  • 热导率:≥100W/mK
应力分布测试:
  • 残余应力:压应力≤-200MPa
  • 应力梯度:梯度值≤10MPa/μm

检测范围

1. 半导体晶圆: 涵盖硅基、GaAs等材料,重点检测薄膜厚度均匀性及表面缺陷控制

2. 光学涂层: 包括增透膜、反射膜等,侧重光学性能稳定性和厚度精度验证

3. 太阳能电池薄膜: CIGS、CdTe等光伏材料,核心检测元素组分偏差及界面粘结强度

4. 数据存储介质: 磁盘、光盘涂层,重点评估硬度性能与化学耐久性

5. 微电子封装材料: 晶圆级封装薄膜,检测热学特性及应力分布均匀性

6. 医疗器械涂层: 植入物抗菌膜,侧重表面形貌和生物兼容性参数

7. 汽车镀膜组件: 挡风玻璃涂层等,关键检测光学特性和耐候性能

8. 航空航天复合材料: 热障涂层等,重点评估热学性能及抗氧化能力

9. 显示面板薄膜: OLED、LCD功能层,检测电学性能均匀性及厚度控制

10. 化工防腐涂层: 管材保护膜,核心检测化学稳定性和粘结强度

检测方法

国际标准:

  • ISO 21968:2020 薄膜厚度测量方法
  • ASTM E1251-17 辉光放电发射光谱元素分析
  • ISO 4287:1997 表面粗糙度轮廓法
国家标准:
  • GB/T 23444-2009 薄膜厚度测试方法
  • GB/T 22369-2021 金属材料化学成分光谱分析
  • GB/T 1031-2009 表面粗糙度参数及其数值
方法差异说明:国际标准如ISO 21968采用更高真空度要求(≤10⁻⁶Pa),而GB/T 23444允许真空度≤10⁻⁴Pa;ASTM E1251规定元素检测限达0.001wt%,GB/T 22369最低限为0.005wt%。光学特性检测中,ISO标准要求全波段扫描,GB标准聚焦可见光区域。

检测设备

1. 真空蒸发镀膜机: VE-3000型(真空度≤10⁻⁶Pa,蒸发速率精度±0.05nm/s)

2. 薄膜厚度测量仪: FT-5000型(分辨率0.01nm,测量范围1-1000nm)

3. 能谱分析仪: EDX-800型(元素检测限0.001wt%,能量分辨率130eV)

4. 表面轮廓仪: SP-200型(粗糙度测量精度±0.01μm,扫描速度5mm/s)

5. 显微硬度计: MH-100型(载荷范围0.01-5kg,精度±1%)

6. 纳米压痕仪: NI-50型(最大载荷500mN,位移分辨率0.1nm)

7. 剥离强度测试机: PT-150型(拉力范围0-200N,速度控制0.1-100mm/min)

8. 光学性能测试仪: OP-400型(波长范围200-2500nm,精度±0.1%)

9. 盐雾腐蚀试验箱: SST-300型(温度范围25-50°C,喷雾量1-2ml/80cm²/h)

10. 电阻测量仪: RM-600型(测量范围0.01Ω-10MΩ,精度±0.5%)

11. 热分析仪: TA-700型(温度范围-150-1500°C,升温速率0.1-100°C/min)

12. 应力测试系统: SS-250型(应力分辨率1MPa,扫描面积100x100mm)

13. 辉光放电光谱仪: GDS-900型(元素分析深度0.1-10μm,检测速度5s/点)

14. 高温氧化炉: HO-100型(最高温度1200°C,气氛控制精度±0.1%)

15. 真空环境室: VC-500型(真空维持时间≥48h,泄漏率≤10⁻⁹Pa·m³/s)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

蒸发遮掩法检测-检测范围
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。